测试开发包括测试算法的设计、测试程序的编写、测试硬件的选型和配置等。确保测试方案能够全面覆盖芯片的功能和性能要求，同时提高测试效率和准确性。
根据测试方案，对芯片进行测试，通常在高精度的自动测试设备（ATE）上进行，测试工程师需要监控测试过程，确保测试数据的准确性和测试结果的可靠性。
测试报告通常包括测试结果、良率分析、失效模式分析等内容。通过数据分析，客户可以了解芯片的性能表现，识别潜在问题，并优化设计和制造工艺。
对失效芯片进行详细分析，包括电性分析、物理分析和化学分析等步骤。通过分析，可以了解芯片失效的具体原因，并采取相应的改进措施，提高芯片的良率和可靠性。
客户信赖之选
知名企业的支持
年度技术创新企业
时间的专注和沉淀
以上的客户满意度
智慧赋能 成就非凡
